SID4 UHR
光谱 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm)
SID4 UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点，并拥有超高分辨率及相位精度。 它的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4 UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查（表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等）和光学组件的表征（镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等）。 SID4-UHR搭载高性能相机，也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达554 x 554 相位取样分辨率使SID4 UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。
产品规格
| 波长范围 | 400 - 1100 nm |
| 靶面尺寸 | 15.16 x 15.16 mm² |
| 空间分辨率 | 29.6 µm |
| 取样分辨率 | 512 x 512 |
| 相位分辨率 | <2 nm RMS |
| 绝对精度 | 15 nm RMS |
| 采集速率 | 8 fps |
| 实时处理速度* | 1 fps (全分辨率下) |
| 接口种类 | 以太网口 |
| 尺寸（宽x高x长） | 60 x 60 x 70 mm³ |
| 重量 | 约450g |
*使用官方配置电脑搭载SID4软件环境下
相关产品
SID4 UV HR
最低至190nm波长的紫外波前传感器
基于Phasics的独家专利技术，SID4 UV HR波前传感器可在190 nm至400 nm的紫外波段提供无与伦比的高相位分辨率（355 x 280取样分辨率）和极高的相位灵敏度（优于1 nm RMS）。 因此，SID4 UV HR非常适合用于光刻，半导体等领域的光学组件表征和表面面型检测（透镜和晶圆等）。
SID4 HR
超高分辨率波前传感器
SID4 HR为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。
SID4 SWIR HR
高分辨率短波红外波前传感器
SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。
SID4 DWIR
3 - 5 µm 及8 - 14 µm 双波段波前传感器
SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。
