SID4 HR

作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的完美多功能工具。

R-Cube为反射式光源模块插件，可通过与Phasics的波前传感器组合轻松进行双透射或反射测量。 它适用于反射镜和大口径透镜的像差测量，并有助于校准光学测试系统或自适应光学系统中的小型望远镜。 该光源可生成高质量的准直光束， 只需插合波前传感器即可轻松准确的完成双透射光路下的波前测量。

SID4 SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。 SID4 SWIR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。

Phasics在光学计量领域持续创新，推出能够兼顾测量透射波前误差和反射波前误差（TWE / RWE）的革命性新产品：Kaleo MultiWAVE动态干涉仪。 直径最高至5.1英寸（130毫米）的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。 Kaleo MultiWAVE是购买多台干涉仪或特殊波长干涉仪的有效替代方案，拥有极高性价比。 该系统同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的优秀抗震性能。

基于Phasics的独家专利技术，SID4 UV HR波前传感器可在190 nm至400 nm的紫外波段提供无与伦比的高相位分辨率（355 x 280取样分辨率）和极高的相位灵敏度（优于1 nm RMS）。 因此，SID4 UV HR非常适合用于光刻，半导体等领域的光学组件表征和表面面型检测（透镜和晶圆等）。

SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

SID4 sC8专为生命科学和材料分析定量相位成像应用而设计，它以紧凑的即插即用解决方案带来了真正意义的快速和精准的定量相位测量。 生物学家将从无标记细胞成像，高灵敏度和自动图像分割功能中受益，而材料科学家将获得准确的折射率测量，激光损伤阈值分析和表面表征。