定制光学测试仪器

SID4 HR为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。

R-Cube为反射式光源模块插件，可通过与Phasics的波前传感器组合轻松进行双透射或反射测量。 它适用于反射镜和大口径透镜的像差测量，并有助于校准光学测试系统或自适应光学系统中的小型望远镜。 该光源可生成高质量的准直光束， 只需插合波前传感器即可轻松准确的完成双透射光路下的波前测量。

Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。

Kaleo MTF测量仪结合了干涉仪与传函仪的功能，是检测镜片组、镜头和光学系统性能的完美工具，可适用于镜头设计、原型制作或生产等不同阶段。 该测量工作站提供了最完整的镜头特性：包括同轴和离轴调制传递函数（MTF），相对照度和多种波长下的波前像差。 即使在待测镜头拥有高主光线角（CRA）和大视场角（FOV）下，Kaleo MTF测量仪仍可保持高测量精度。

Phasics Kaleo IR系列红外光学测试台使红外镜头的质量监控变得快速有效，只需单次图像采集即可获得全部空间频率下调制传递函数（MTF）的完整曲线，无需多次扫描或复杂的对准。 测量MTF的同时还提供实时波前像差信息。 Kaleo IR系列红外光学测试台可为近红外、短波红外、中红外或远红外波段内的任意工作波长提供具有高性价比的红外干涉仪+传函仪。

Phasics在光学计量领域持续创新，推出能够兼顾测量透射波前误差和反射波前误差（TWE / RWE）的革命性新产品：Kaleo MultiWAVE动态干涉仪。 直径最高至5.1英寸（130毫米）的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。 Kaleo MultiWAVE是购买多台干涉仪或特殊波长干涉仪的有效替代方案，拥有极高性价比。 该系统同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的优秀抗震性能。

SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。

SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。